距展会开幕还有

2018年10月24日,“2018年全国电子显微学学术年会”在成都禧悦酒店正源厅盛大开幕。大会为期三天,吸引来自大专院校、科研院所、企业等电子显微镜学领域专家学者1000余人出席。大会旨在帮助大家了解电子显微学及相关仪器技术的前沿发展,促进基础研究与应用研究最新进展的交流。

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大会会场

  本次大会主要由大会报告和十个分会场报告组成,大会报告特邀十四位国内外著名学者、相关仪器设备厂商专家将依次为大家呈现精彩报告。同时,为使大会整体效果更佳,大会报告与分会场报告从时间顺序上穿插进行。25日上午,大会报告继续进行下半部分,七位国内外著名学者、相关仪器设备厂商专家依次做了精彩报告。同时在会议期间还依次揭晓八大奖项并颁奖。

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报告人:中国科学院院士、清华大学 教授 朱静

报告题目:多铁材料的电子显微学研究

  报告开始,朱静首先回顾了自己从1999年开始从事铁电材料的电子显微学研究以来的渊源历程,按时间顺序分别介绍了在此领域与自己一路走来的研究学者们:张孝文、钟维烈、姚熹、王晓慧、李敬峰等。接着,围绕应用电子显微学方法该领域的几个有争论的问题,展开本次报告。多铁性材料是指同时具有(反)铁电、(反、亚)铁磁、铁弹等两种或两种以上铁性有序的材料,这些性质在同一种材料中共存,由于多种序参量之间的相互耦合作用而产生的新的效应。多铁性耦合的物理涵义涉及到电荷、自旋、轨道、晶格等凝聚态物理多个范畴;因而,已成为一个新的前沿研究领域。

  近代电子显微镜的发展使其集成像、衍射、谱学等功能于一身,可提供原子尺度分辨的正空间的点阵图像和皮米精度的原子的位移、倒空间的衍射信息、元素的价态电子结构和磁性能测量等,并具有空间分辨、时间分辨、能量分辨、动量分辨和观察到外场下的试样演变等特点,对多铁材料的机理研究和各种序参量之间的耦合机制的认识是非常有利的,是不可缺少和替代的研究工具。在报告中,朱静主要叙述了其研究组利用电子显微学方法和相关的研究手段对一些单质的和薄膜材料的研究方法和研究结果。

  值得一提的是,本次大会上,朱静院士荣获中国电子显微学会首届“中国电子显微学终身成就奖”,并由张泽院士为其颁奖。以表彰其在电子显微学前沿和应用于材料科学领域56年辛勤工作,默默无闻为中国电子显微学事业做出的诸多贡献。

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报告人: 美国工程院院士 Prof.David J. Srolovitz(University of Pennsylvania,United States)

报告题目:New insights into the mechanisms behind grain boundary dynamics

  微观结构影响材料的机械响应,但机械载荷如何驱动微观结构演变以及微观结构演变如何影响机械变形却鲜为人知。报告中,David J. Srolovitz讨论了一种新的定量方法,用于解决机械载荷与多晶微结构演变之间的联系。首先开发一个离散缺陷(断开)模型,然后将其应用于应力驱动的晶界(GB)迁移,GB粗化和GB滑动。基于这种理解,提出一个基于GB运动学的定量连续GB运动方程。表明GB迁移及相关动力学影响是与GB界的断裂行为相关联D的,同时展示了该模型在多晶体中的应用,包括晶粒旋转,位错生成,生长停滞等。最后提出该领域面对的巨大挑战及机遇,包括:温度、晶体学、材料微观组织演变等。

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报告人:Dr.OHNSHI ICHIRO(日本电子公司)

报告题目:Elemental analysis for beam sensitive materials using newly developed high efficiency X-ray detection system mounted on aberration corrected 300kV microscope

  OHNSHI ICHIRO首先介绍了日本电子全新推出的高效EDS,其特点包括多种元素同时分析、简单操作、适用厚样品分析等。由于其Dual SDD system总共固体角只有2.21sr,因此检测效率大大提高。接着以全新EDS配置球差校正电镜300kV条件下,对电子束敏感的纳米粒子、矿物样品等检测为例,详细介绍了该产品针对电子束敏感材料研究过程中的优势。

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报告人:北京大学生命科学学院教授 高宁

报告题目:冷冻电镜三维重构技术的历史和应用范例

  冷冻电子显微技术(cryo-electron microscopy,cryo-EM),是在低温状态下,通过使用透射电子显微镜观察冷冻样品的一种显微技术。2017年诺贝尔化学奖授予了瑞士科学家Jacques Dubochet、美国科学家Joachim Frank以及英国科学家Richard Henderson,以表彰他们在冷冻显微术领域的贡献。高宁首先为大家简介了冷冻电子显微技术的发展历史,三位诺奖获得者在冷冻电镜技术发展过程中的主要贡献,及部分国际发展前沿。1930’s电镜首次实现商业化后,1934年,Nature一篇文章就首次使用电镜观察了生物样品,同时也提出了冷冻样品的“冷冻技术”提议。接着,在1950’s至1970’s期间,电镜技术在生物领域的应用得到迅速发展,从2D到3D,包括1970年便获得了首个病毒3D结构图像等。

  在过去的五年里,随着直接电子探测相机的引入,冷冻电镜在生物大分子三维结构解析的应用中获得了爆发式的突破,大量复杂的蛋白质及核酸复合物(分子机器)的高分辨结构得到解析。接着,也介绍了其团队采用这一技术在一些重要分子机器的结构研究工作中获得的突破。最后预测随着材料、物理、计算机、化学等领域学者逐渐加入此领域,相信在未来五到十年,冷冻电镜技术在生物科学领域的应用一定可以取得更大的发展。

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报告人: Dr.HIROAKI MATSUMOTO(日立高新技术公司&天美(中国)科学仪器有限公司)

报告题目:Hitachi 200kV filed emission Cs-corrected analytical TEM/STEM/SEM HF5000 for multi-user facilities

  HIROAKI MATSUMOTO主要介绍了日立高新高端电镜产品——球差校正透射电镜HF5000的广泛用户应用性能。结合大连化学物理研究所安装配置的拥有原位环境透射功能的日立HF5000,详细介绍了该电镜的具体应用实例。原位环境透射电镜可在电镜中样品区域提供气体或者液体环境,与对样品的物理刺激相结合,即可对所研究材料结构或成分变化进行高分辨率的动态观察,是近几年来蓬勃发展并受到广泛关注的原位环境透射电子显微术。

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报告人:Prof.Peter Nellist(University of Oxford, Unied Kingdom)

报告题目: Phase imaging in the STEM through electron ptychography

  Peter Nellist于1995年首次提出electron ptychography三维成像技术提高STEM分辨率,并利用该技术提高非球差STEM分辨率至0.136 nm。 开创了使用Ronchigram对STEM进行光学合轴的方法并在60kV低压下获得了二维氮化硼纳米片的原子分辨率STEM图像。报告中,Peter Nellist主要介绍了基于该技术获得了STEM高效相位成像结果。结合在锂电池材料的锂、氧等轻原子的三维信息的高效表征等案例详细介绍了该技术的优势。结果表明,该技术可以检测到单层hBN中电荷转移的影响,且目前算法可以为该技术的强大结果提供支持,甚至包含在动态图像模式下。同时,Peter Nellist也表示,为达成更好的效果,更快的相机仍然是必要的。

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报告人:聂建峰教授(Monash University, Australia,重庆大学)

报告题目:What can microscopy do in the study of fundamental issues on Mg alloys?

  2000年前后,镁合金的晶格缺陷及其对变形行为的机理不断被发现后,铝合金领域得到迅猛的发展,其发展背后离不开各种研究晶格先进技术手段的进步。尽管镁合金产业取得了极大发展,但在其晶格缺陷理论、沉淀和溶质相互作用等方面仍然纯在许多争议或未解决的疑问。报告中,聂建峰主要分享了他们团队利用HAADF-STEM、EDS-STEM等电子显微技术,在镁合金晶格缺陷研究方面取得的一些最新进展。结果表明,镁合金的变形行为和机制需要使用常规TEM技术及STEM的原子解决方案,而溶质中原子与位错的交互作用研究还需充分的利用TEM和MD进行表征。

  会议期间,大会依次揭晓了“2018年全国电子显微学学术年会大会”八项奖项获奖名单,并举行颁奖仪式。分别颁发《中国电子显微学终身成就奖》、《钱临照奖》、《桥本初次郎奖》、《优秀青年学者奖》、《青年优秀论文奖》,以及《优秀会议论文奖》、《优秀Poster奖》,同时还为“第九届中国电子显微摄影大赛”获奖者颁奖。

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朱静院士荣获《中国电子显微学终身成就奖》

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《钱临照奖》获奖者:陈德蕙教授(因年事已高未到现场领奖)、马秀良研究员(左)

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《桥本初次郎奖》获奖者:邹本三教授(左图右)、马洪骏教授(右图右)

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《优秀青年学者奖》获奖者:钟虓龑副教授(右)

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《青年优秀论文奖》获奖者:姜超、韩威、兰倩倩、任志红

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《优秀Poster奖》11位获奖

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《优秀会议论文奖》10位获奖

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“第九届中国电子显微摄影大赛”优秀奖:胡帅帅(右)

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“第九届中国电子显微摄影大赛”三等奖:高翔、文广玉、张辉

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“第九届中国电子显微摄影大赛”二等奖(一等奖空缺):许佳玲、程锦


[来源:仪器信息网、中国电子显微镜学会]

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